Экспериментальные методы исследований в физической электронике
Архипов А. В. Экспериментальные методы исследований в физической электронике: Учебное пособие / А. В. Архипов, А. Ф. Вакуленко, Е. П. Тарадаев, С. Н. Гуляев, Н. К. Краснова, М. А. Князева, Р. Г. Бурковский. – СПб.: Медиапапир, 2025. – 116 с.
Р е ц е н з е н т ы:
О. А. Подсвиров, доктор физико-математических наук, профессор Высшей инженерно-физической школы СПбПУ
М. В. Мишин, доктор физико-математических наук, профессор кафедры функциональных микро- и наноматериалов Академического университета им. Ж. И. Алфёрова
Соответствует требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего профессионального образования по направлениям подготовки бакалавров 16.03.01 – «Техническая физика».
В пособии собраны сведения о пяти направлениях исследований в области физической электроники: исследовании рельефа и свойств поверхностей методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), постановке голографического эксперимента, моделировании ионно-оптических систем и изучении твердых тел с помощью дифракции медленных электронов. Помимо теоретических сведений в каждом разделе пособия представлены примеры оборудования и программного обеспечения, используемых для выполнения научной работы. В конце каждого раздела приведены методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Экспериментальные методы исследований», предназначенных для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям «Техническая физика», а также по другим направлениям, в учебных планах которых предусмотрено изучение твердых тел при помощи сканирующих методик, рентгеновских методов, масс-спектрометрического анализа, а также методов, использующих явление голографии. Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курсов «Экспериментальные методы исследования» и выполнении лабораторных работ студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.
ISBN 978-5-00110-489-6
© Коллектив авторов, 2025
© Медиапапир, 2025
Р е ц е н з е н т ы:
О. А. Подсвиров, доктор физико-математических наук, профессор Высшей инженерно-физической школы СПбПУ
М. В. Мишин, доктор физико-математических наук, профессор кафедры функциональных микро- и наноматериалов Академического университета им. Ж. И. Алфёрова
Соответствует требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего профессионального образования по направлениям подготовки бакалавров 16.03.01 – «Техническая физика».
В пособии собраны сведения о пяти направлениях исследований в области физической электроники: исследовании рельефа и свойств поверхностей методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), постановке голографического эксперимента, моделировании ионно-оптических систем и изучении твердых тел с помощью дифракции медленных электронов. Помимо теоретических сведений в каждом разделе пособия представлены примеры оборудования и программного обеспечения, используемых для выполнения научной работы. В конце каждого раздела приведены методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Экспериментальные методы исследований», предназначенных для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям «Техническая физика», а также по другим направлениям, в учебных планах которых предусмотрено изучение твердых тел при помощи сканирующих методик, рентгеновских методов, масс-спектрометрического анализа, а также методов, использующих явление голографии. Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курсов «Экспериментальные методы исследования» и выполнении лабораторных работ студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.
ISBN 978-5-00110-489-6
© Коллектив авторов, 2025
© Медиапапир, 2025